G系列荧光镀层测厚仪

    产品名称:G系列荧光镀层测厚仪

  • 产地:美国      销售:沧州欧谱
  • 简介:G系列两个最显着的特征是精确视频成像,以及使用电动Z轴和基于激光的自动对焦的“自下而上”测量。 后者是Bowman独有的特征。 带有1.5X1.5行程的可用手动XY平台便于轻松定位小型和大型零件。 与其他型号相比,腔室相对较小B系列。 较小的腔室和占地面积非常适合珠宝和其他贵金属分析应用,以及连接器和紧固件等组件。

一、产品简介

G系列两个最显着的特征是精确视频成像,以及使用电动Z轴和基于激光的自动对焦的“自下而上”测量。 后者是Bowman独有的特征。 带有1.5X1.5行程的可用手动XY平台便于轻松定位小型和大型零件。 与其他型号相比,腔室相对较小B系列。 较小的腔室和占地面积非常适合珠宝和其他贵金属分析应用,以及连接器和紧固件等组件。
G系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦点相机和SDD探测器。

二、产品特点:

G系列最独特的两个特征是精密视频成像,以及采用自动Z轴和基于激光自动对焦的“自下而上”测量方式。后者是Bowman独有的特征。手动XY平台具有38mm(1.5")|X38mm(.5")行程,便于小型和大型部件的定位。

三、应用领域

G系列XRF是实验室和生产线的理想方案,当用户:
· 预留摆放空间小;
· 需要快速和方便地定位较小的样品;
· 预算有限;
· 偏向“从下往上”的测量方式伴随自动Z轴

四、配置

G系列标准配置包括一个固定准直器,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦距相机和SDD探测器。

五、技术参数

元素测量范围
13号铝元素到92号铀元素
X射线管
50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管
探测器
190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
分析层数及元素数
5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素
滤波器/准直器
4主过滤器/单准直器(可选双)
焦距
单个固定焦深,激光和自动对焦
数字脉冲处理
4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
计算机
英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位
相机
1 / 4“(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率
视频放大倍率
20x:标准
电源
150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz
重量
25kg
马达控制/可编程XY平台
不可用
延伸可编程XY平台
不可用
可选的手动XY样品台
表格大小:279mmx 254mm 行程:38mmx 38mm
样品仓尺寸
高度:100mm,宽度:325mm,深度:300mm
外形尺寸
高度:325mm,宽度:350mm,深度:450mm

 
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