B系列荧光镀层测厚仪

    产品名称:B系列荧光镀层测厚仪

  • 产地:美国      销售:沧州欧谱
  • 简介:B系列是最基本的自上而下的测量配置。样品台是固定的底板;操作员手动将零件放置在所需区域进行测试。这是通过将零件放入室内并使用视频图像在屏幕上的十字准线内对齐所需位置来实现的。样品室与 P系列一样采用开槽配置,但没有可编程的XY样品台。

一、产品简介

B系列是最基本的自上而下的测量配置。样品台是固定的底板;操作员手动将零件放置在所需区域进行测试。这是通过将零件放入室内并使用视频图像在屏幕上的十字准线内对齐所需位置来实现的。样品室与 P系列一样采用开槽配置,但没有可编程的XY样品台。
标准配置包括一个固定的准直仪;相机具有固定的焦距。固态PIN检测器与我们的长寿命微焦点X射线管一起提供。与所有Bowman台式XRF一样,仪器可以升级为包括多个准直仪,变焦相机或SDD检测器。

二、产品特点:

B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式,配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓,通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。

三、应用领域

B系列可满足以下类型用户的需求:
· 样品测试量相对较小;
· 样品仅需测量一个位置;
· 大型线路板镀层的抽检;
· 预算有限但希望日后仪器性能能有所提升;
· 保证符合IPC-4552A;

四、配置

B系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号-样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦距相机和SDD探测器。

五、技术参数

元素测量范围
13号铝元素到92号铀元素
X射线管
50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管
探测器
190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
分析层数及元素数
5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素
滤波器/准直器
4位置一次滤波器/单规格准直器
焦距
激光固定焦距(可选多焦点)
数字脉冲处理
4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
计算机
英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位
相机
1 / 4“(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率
视频放大倍率
30x:标准45x:可选
电源
150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz
重量
34kg
马达控制/可编程XY平台
不可用
延伸可编程XY平台
不可用
样品仓尺寸
高度:140mm,宽度:310mm,深度:335mm
外形尺寸
高度:450mm,宽度:450mm,深度:600mm

 
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