荧光测厚仪
荧光测厚仪，即x射线荧光镀层测厚仪，利用X-射线照射物体待测部位，从而使镀膜、素材及中间层膜产生特定的X-射线，检测系统将其转换为与X射线强度成比例的电信号，经由仪器记录处理即可得到镀膜的厚度。X射线荧光镀层测厚仪，有着快速、准确、非破坏、非接触、小面积测量、多层合金测量、高生产力、高再现性等优点，对产品质量管理及企业成本节约有着重要作用，广泛应用于电子元器件、半导体、PCB、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器等行业。