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玉树达高特测厚仪
达高特测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
达高特测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
