产品名称：F20薄膜厚度测量仪
- 产地：美国 销售：沧州欧谱
- 简介：不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。
一、产品简介
不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，F20适用于各种应用：
· 测量厚度、折射率、反射率和穿透率：
- 单层膜或多层膜叠加
- 单一膜层
- 液态膜或空气层 · 不同条件下的测量，包括：
- 在平面或弯曲表面
- 光斑最小可达20微米
- 桌面式、XY坐标自动化膜厚测量，或在线配置
二、测量原理
当入射光穿透不同物质的界面时将会有部份的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生振荡的现象。
从光谱的震荡频率，我们可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度(越多的震荡代表越大的厚度)，同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。
三、产品应用
半导体薄膜液晶显示光学镀膜生物医学· 光刻胶
· 工艺薄膜
· 介电材料· OLED
· 玻璃厚度
· ITO与其他TCO· 硬涂层
· 抗反射层· Parylene
· 医疗设备
四、技术参数
规格F20-UVF20-UVXF20F20-EXRF20-NIRF20-XT波长范围190-1100nm190-1700nm380-1050nm380-1700nm950-1700nm1440-1690nm光源外置 氘灯+钨卤素灯内置 钨卤素灯厚度测量范围1nm-40μm1nm-250μm15nm-70μm15nm-250μm100nm-250μm0.2μm-450μm最小厚度50nm50nm100nm100nm500nm2μm准确度1nm或0.2%1nm或0.2%2nm或0.2%2nm或0.2%3nm或0.4%5nm或0.4%精度0.02nm0.02nm0.02nm0.02nm0.1nm1nm稳定性0.05nm0.05nm0.05nm0.05nm0.12nm1nm光斑大小标准1.5mm,可选配至20μm600μm样品尺寸直径从1mm到300mm或更大电源100- 240 VAC, 50- 60Hz, 0.3-0.1 A接口USB 2.0认证CE EMC和欧洲安全指令操作系统PC: Windows XP (SP2) - Latest Windows (64-bit)
